Современные микропроцессорные устройства автоматики и системы управления, выполненные но интегральной технологии, могут содержать на одном кристалле до одного миллиона активных и пассивных элементов динамических звеньев (резисторов, конденсаторов, диодов, транзисторов). По такой технологии изготовляются большие интегральные схемы (БИС) и сверхбольшие БИС (СБИС), получившие такое название не из-за больших геометрических размеров, а потому, что содержат большое число элементов, указанных выше. Методы проектирования на уровнях системотехническом, схемотехническом, топологическом и технологическом основаны только на базе САПР и прикладном программном обеспечении для каждого уровня автоматизированного проектирования самих БИС и СБИС и программируемых систем и устройств автоматики. Однако в таких устройствах уже не представляется возможным подать на вход стандартный сигнал, а на выходе по осциллографу посмотреть на характер его изменения, нельзя с помощью паяльника "влезть" внутрь схемы и исправить ее, как это выполняется в электрической схеме из навесных пассивных и активных элементов. Оценка работоспособности и отладка работы системы на микропроцессорной элементной базе осуществляется специальными тестами, программами-мониторами, эмуляторами и вычислительными системами, например, в виде автоматизированных рабочих мест АРМ2-05 и др.